Актуальные предложения от поставщиков по компоненту «SNJ54BCT8245AFK (LCCC-28)»:
|
ДАРТ Электроникс
|
3 недели
|
|
|
Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 шинными трансиверами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -55...+125°C
|
—
|
|
Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 шинными трансиверами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -55...+125°C
Россия, Москва
ДАРТ Электроникс