| Продавец | Наименование | Склад | Под заказ | Цена |
|---|
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 шинными трансиверами и регистрами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -55...+125°C | — | 3 недели | — | ||
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 шинными трансиверами и регистрами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -55...+125°C | — | 3 недели | — |
|
ЮЛ+ФЛ
|
(Texas Instruments) Микросхема: 54ABT8646 SCAN TEST DEVICES WITH | 26 шт | 1 неделя | 17 245 руб. |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 21 886.74 руб. |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 3 933.90 руб. |
| (TI) | — | 6 недель | 27 272.73 руб. | ||
| (TI) | — | 6 недель | 16 042.69 руб. |
ВСЕ КОМПОНЕНТЫ
7- SNJ54ABT8646FK
- SNJ54ABT8646JT
- SNJ54ABT8646JT (CDIP-28)
- SNJ54ABT8646FK (LCCC-28)
© ИТС «Электронные компоненты»,
Все материалы сайта носят исключительно информационный характер и ни при каких условиях не являются публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 (2) Гражданского кодекса РФ. Пользовательское соглашение
Мобильная версия
Был ли сайт полезен?
Готовы ответить на несколько вопросов?