Купить SN74BCT8244ADW у поставщиков
| Продавец | Наименование | Склад | Под заказ | Цена |
|---|
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Device w/Octal Buffers | — | 8 недель | — | ||
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — |
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 буферами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. 0...+70°C | — | 3 недели | — |
| (TEXAS INSTRUMENTS) / М.опт: 10-24 шт. Опт: от 25 шт. | — | 3 недели | 2 120.56 руб. | ||
| (TEXAS INSTRUMENTS) / М.опт: 10-24 шт. Опт: от 25 шт. | 76 шт | заказ | 1 953.03 руб. |
|
ЮЛ+ФЛ
|
(Texas Instruments Inc) Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 2 шт | 1 неделя | 2 183 руб. | |
| (Texas Instruments Inc) Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 609 шт | 1 неделя | 2 285 руб. |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 1 443.49 руб. | ||
| (Texas Instruments) | — | заказ | — |
| (Texas) IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | — | заказ | — |
| (Texas Instruments) | 4221 шт | 2 недели | — |
| (TI) | — | 6 недель | 1 852.23 руб. |
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Device w/Octal Buffers | — | 1 неделя | — | ||
| — | 1 неделя | — | |||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Device w/Octal Buffers | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 938.70 руб. |
© ИТС «Электронные компоненты»,
Все материалы сайта носят исключительно информационный характер и ни при каких условиях не являются публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 (2) Гражданского кодекса РФ. Пользовательское соглашение
Мобильная версия
Был ли сайт полезен?
Готовы ответить на несколько вопросов?