Продавец | Наименование | Склад | Под заказ | Цена |
---|
Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 буферами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. 0...+70°C | — | 3 недели | — |
(TEXAS INSTRUMENTS) / М.опт: 10-24 шт. Опт: от 25 шт. | — | 3 недели | 2 120.56 руб. | ||
(TEXAS INSTRUMENTS) / М.опт: 10-24 шт. Опт: от 25 шт. | 76 шт | заказ | 1 953.03 руб. |
ЮЛ+ФЛ
|
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 186 шт | 1 неделя | 3 054 руб. | |
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 2000 шт | 1 неделя | 1 262 руб. | ||
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 5955 шт | 1 неделя | 1 420 руб. |
(Texas Instruments) | — | заказ | 1 598.79 руб. | ||
(Texas Instruments) | — | заказ | — | ||
(Texas Instruments) | — | заказ | 1 197.64 руб. | ||
(Texas Instruments) | — | заказ | — |
(Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Device w/Octal Buffers | — | 8 недель | — | ||
(Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
(Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
(Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
(Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
(Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
(Texas Instruments) | — | 8 недель | — |
(Texas) IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | — | заказ | — |
(TI) | — | 6 недель | 1 852.23 руб. |
(Texas Instruments) | 4221 шт | 2 недели | — |
(Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Device w/Octal Buffers | — | 1 неделя | — | ||
— | 1 неделя | — | |||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
(Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Device w/Octal Buffers | — | 1 неделя | — | ||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — |
(Texas Instruments) | — | заказ | 938.70 руб. | ||
(Texas Instruments) | — | заказ | 994.50 руб. |
Был ли сайт полезен?
Готовы ответить на несколько вопросов?