Продавец | Наименование | Склад | Под заказ | Цена |
---|
Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 инвертирующими буферами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. 0...+70°C | — | 3 недели | — |
ЮЛ+ФЛ
|
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 663 шт | 1 неделя | 1 679 руб. | |
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 30000 шт | 1 неделя | 1 826 руб. | ||
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 1404 шт | 1 неделя | 1 826 руб. |
(Texas Instruments) | — | заказ | 1 320.11 руб. | ||
(Texas Instruments) | — | заказ | — |
(Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Device w/Octal Inverting Buffers | — | 8 недель | — | ||
(Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
(Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
(Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
(Texas Instruments) | — | 8 недель | — |
(Texas) IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | — | заказ | — |
(Texas Instruments) | 516 шт | 2 недели | — | ||
(Texas Instruments) | 1062 шт | 2 недели | — |
(TI) | — | 6 недель | 1 494.75 руб. |
(Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Device w/Octal Inverting Buffers | — | 1 неделя | — | ||
— | 1 неделя | — | |||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
(Texas Instuments) | — | 1 неделя | — |
(Texas Instruments) | — | заказ | 882.90 руб. |
Был ли сайт полезен?
Готовы ответить на несколько вопросов?