Еще предложения

Купить SN74ABT8245DWG4 у поставщиков

SN74  |  SN74ABT  |  SN74ABT8245  |  SN74ABT8245DWG
Продавец Наименование Склад Под заказ Цена
ЮЛ
Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 шинными трансиверами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -40...+85°C — 3 недели —
ЮЛ+ФЛ
(TEXAS INSTRUMENTS) / М.опт: 10-24 шт. Опт: от 25 шт. 75 шт заказ 1 276.68 руб.
ЮЛ+ФЛ
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC 260 шт 1 неделя 1 147 руб.
ЮЛ
(Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Devices — 8 недель —
ЮЛ+ФЛ
(TI) — 6 недель 1 075.94 руб.
ЮЛ
(Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Devices — 1 неделя —
To top

Сообщение для разработчиков

Отправить
Сообщение успешно отправлено. Спасибо за обратную связь.