| Продавец | Наименование | Склад | Под заказ | Цена |
|---|
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 шинными трансиверами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -40...+85°C | — | 3 недели | — | ||
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 шинными трансиверами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -40...+85°C | — | 3 недели | — | ||
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 шинными трансиверами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -40...+85°C | — | 3 недели | — |
| (TEXAS INSTRUMENTS) / М.опт: 10-24 шт. Опт: от 25 шт. | 53 шт | заказ | 1 172.67 руб. | ||
| (TEXAS INSTRUMENTS) / М.опт: 10-24 шт. Опт: от 25 шт. | 75 шт | заказ | 1 276.68 руб. |
|
ЮЛ+ФЛ
|
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC | 40 шт | 1 неделя | 1 865 руб. | |
| (Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 260 шт | 1 неделя | 1 160 руб. | ||
| (Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC | 1850 шт | 1 неделя | 1 582 руб. |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 899.44 руб. | ||
| (Texas Instruments) | — | заказ | 749.86 руб. |
| (Texas Instruments) 23+ SOIC-24 N/A 1 | 15000 шт | 5 недель | — |
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 8 недель | — | ||
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Devices | — | 8 недель | — | ||
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 8 недель | — |
| (Texas) IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC | — | заказ | — |
| (TI) | — | 6 недель | 1 075.94 руб. | ||
| (TI) | — | 6 недель | 1 075.94 руб. | ||
| (TI) | — | 6 недель | 896.72 руб. |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 644.40 руб. |
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 1 неделя | — | ||
| — | 1 неделя | — | |||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Devices | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — |
© ИТС «Электронные компоненты»,
Все материалы сайта носят исключительно информационный характер и ни при каких условиях не являются публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 (2) Гражданского кодекса РФ. Пользовательское соглашение
Мобильная версия
Был ли сайт полезен?
Готовы ответить на несколько вопросов?