| Продавец | Наименование | Склад | Под заказ | Цена |
|---|
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 18-битным шинным трансивером; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -40...+85°C | — | 3 недели | — | ||
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 18-битным шинным трансивером; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -40...+85°C | — | 3 недели | — | ||
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 18-битным шинным трансивером; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -40...+85°C | — | 3 недели | — | ||
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 18-битным шинным трансивером; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -55...+125°C | — | 3 недели | — |
| (TEXAS INSTRUMENTS) / М.опт: 20-39 шт. Опт: от 40 шт. | — | 3 недели | 2 416.95 руб. | ||
| (TEXAS INSTRUMENTS) / М.опт: 10-19 шт. Опт: от 20 шт. | 99 шт | заказ | 1 785.78 руб. |
|
ЮЛ+ФЛ
|
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 201 шт | 1 неделя | 3 149 руб. |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 1 282.60 руб. | ||
| (Texas Instruments) | — | заказ | 1 668.19 руб. | ||
| (Texas Instruments) | — | заказ | 1 411.46 руб. | ||
| (Texas Instruments) | — | заказ | 18 159.77 руб. |
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 8 недель | — | ||
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 8 недель | — | ||
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 8 недель | — |
| (Texas) IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | — | заказ | — |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 900 руб. | ||
| (Texas Instruments) | — | заказ | 995.40 руб. | ||
| (Rochester Electronics) | — | заказ | 3 244.50 руб. |
| (Texas Instruments) | 264 шт | 2 недели | — | ||
| (Texas Instruments) | 264 шт | 2 недели | — |
| (TI) | — | 8 недель | 1 477.68 руб. | ||
| (TI) | — | 6 недель | 1 921.14 руб. | ||
| (TI) | — | 6 недель | 1 625.60 руб. | ||
| (TI) | — | 6 недель | 21 281.73 руб. |
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 1 неделя | — | ||
| — | 1 неделя | — | |||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — |
| 77 шт | — | — |
ВСЕ КОМПОНЕНТЫ
37- SN74ABT18245ADL
- SN74ABT18245ADLR
- SN74ABT18245ADGGR
- SNJ54ABT18245AWD
- SN74ABT18245ADGG
- 74ABT18245ADGGRE4
- SN74ABT18245ADLRG4
- SNJ54ABT18245AWD (CFP-56)
- SN74ABT18245ADL (SSOP-56)
- SN74ABT18245ADLG4
- SN74ABT18245ADGGR (TSSOP-56)
- ABT18245A
- 74ABT18245ADL
- SN74ABT18245ADLR (SSOP-56)
- 74ABT18245ADGGRE
© ИТС «Электронные компоненты»,
Все материалы сайта носят исключительно информационный характер и ни при каких условиях не являются публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 (2) Гражданского кодекса РФ. Пользовательское соглашение
Мобильная версия
Был ли сайт полезен?
Готовы ответить на несколько вопросов?