| Продавец | Наименование | Склад | Под заказ | Цена |
|---|
| Микросхема ABT сканирующее тестовое устройство с 18-битным универсальным трансивером шины; Uпит.=2,7…3,6В; Tраб. -40...+85°C | — | 3 недели | — |
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device | — | 8 недель | — |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 1 377 руб. |
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — |
Поискать 8V182512IDGGREP в других поисковых системах:
eFind.ru -
chipFind.ru -
Yandex.ru -
Google.ru
ВСЕ КОМПОНЕНТЫ
5- 8V182512IDGGREP
- 8V182512IDGGREP (TSSOP-64)
© ИТС «Электронные компоненты»,
Все материалы сайта носят исключительно информационный характер и ни при каких условиях не являются публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 (2) Гражданского кодекса РФ. Пользовательское соглашение
Мобильная версия
Был ли сайт полезен?
Готовы ответить на несколько вопросов?