| Продавец | Наименование | Склад | Под заказ | Цена |
|---|
|
ЮЛ+ФЛ
|
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 2000 шт | 1 неделя | 1 258 руб. |
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — |
| (Texas Instruments) | — | заказ | — |
| (Texas Instruments) | 4221 шт | 2 недели | — |
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — |
| 1735 шт | — | — |
ВСЕ КОМПОНЕНТЫ
9- SN74BCT8244ADWR
- 74BCT8244ADWR
- SN74BCT8244ADWRE
- SN74BCT8244ADWRE4
- SN74BCT8244ADWRG
© ИТС «Электронные компоненты»,
Все материалы сайта носят исключительно информационный характер и ни при каких условиях не являются публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 (2) Гражданского кодекса РФ. Пользовательское соглашение
Мобильная версия
Был ли сайт полезен?
Готовы ответить на несколько вопросов?