| Продавец | Наименование | Склад | Под заказ | Цена |
|---|
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 8 шинными трансиверами; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -40...+85°C | — | 3 недели | — |
|
ЮЛ+ФЛ
|
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC | 1850 шт | 1 неделя | 1 578 руб. |
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 8 недель | — |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 756.61 руб. |
| (TI) | — | 6 недель | 896.72 руб. |
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — |
ВСЕ КОМПОНЕНТЫ
9- SN74ABT8245DWR
- 74ABT8245DWR
- SN74ABT8245DWR (SOIC-24)
- SN74ABT8245DWRE4
© ИТС «Электронные компоненты»,
Все материалы сайта носят исключительно информационный характер и ни при каких условиях не являются публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 (2) Гражданского кодекса РФ. Пользовательское соглашение
Мобильная версия
Был ли сайт полезен?
Готовы ответить на несколько вопросов?