| Продавец | Наименование | Склад | Под заказ | Цена |
|---|
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 18-битным шинным трансивером; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -40...+85°C | — | 3 недели | — | ||
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 18-битным шинным трансивером; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -40...+85°C | — | 3 недели | — | ||
| Микросхема сканирующее тестовое устройство с 18-битным шинным трансивером; Uпит.=4,5…5,5В; Tраб. -40...+85°C | — | 3 недели | — |
| (TEXAS INSTRUMENTS) / М.опт: 20-39 шт. Опт: от 40 шт. | — | 3 недели | 2 416.95 руб. | ||
| (TEXAS INSTRUMENTS) / М.опт: 10-19 шт. Опт: от 20 шт. | 99 шт | заказ | 1 785.78 руб. |
|
ЮЛ+ФЛ
|
(Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | 60 шт | 1 неделя | 2 486 руб. | |
| (Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 201 шт | 1 неделя | 3 155 руб. | ||
| (Texas Instruments) Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 5000 шт | 1 неделя | 2 712 руб. | ||
| (Texas Instruments) Микросхема: BUS XCVR DUAL 18-CH 3-ST 56PIN T | 500 шт | 1 неделя | 1 559 руб. | ||
| (Texas Instruments Inc) BOUNDARY SCAN BUS TRANSCVR | 1 шт | 1 неделя | 2 843 руб. |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 1 251.88 руб. | ||
| (Texas Instruments) | — | заказ | 1 628.23 руб. | ||
| (Texas Instruments) | — | заказ | 1 377.66 руб. |
| (Texas Instruments) 0044+ SSOP56 N/A 1 | 718 шт | 5 недель | — |
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
| (Texas Instruments) | — | 8 недель | — | ||
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 8 недель | — | ||
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 8 недель | — | ||
| (Texas instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 8 недель | — |
| (Texas) IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | — | заказ | — |
| (Texas Instruments) | 264 шт | 2 недели | — |
| (TI) | — | 8 недель | 1 477.68 руб. | ||
| (TI) | — | 6 недель | 1 921.14 руб. | ||
| (TI) | — | 6 недель | 1 625.60 руб. |
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 1 неделя | — | ||
| — | 1 неделя | — | |||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instruments) Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — | ||
| (Texas Instuments) | — | 1 неделя | — |
| (Texas Instruments) | — | заказ | 900 руб. | ||
| (Texas Instruments) | — | заказ | 995.40 руб. |
| 77 шт | — | — |
© ИТС «Электронные компоненты»,
Все материалы сайта носят исключительно информационный характер и ни при каких условиях не являются публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 (2) Гражданского кодекса РФ. Пользовательское соглашение
Мобильная версия
Был ли сайт полезен?
Готовы ответить на несколько вопросов?